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HCTD高温铁电测试仪
发布时间:2023-10-09        浏览次数:8        返回列表
   产品介绍
  本测试仪用于铁电体的铁电测量,。本测试系统主要包括可编程信号源、微电流放大器、积分器、放大倍数可编程放大器、模/数转换器数/模转化器、微机接口部分、微机和应用软件等部分组成。
  本测试系统采用虚地模式测量电路,与传统的Sawyer-Tower模式相比,此电路取消了外接电容,可减小寄生元件的影响。此电路的测试精度仅取决于积分器积分电容的精度,减少了对测试的影响环节,比较容易定标和,并且能实现较高的测量准确度,它不仅能画出铁电薄膜的电滞回线,还可以定量得到铁电薄膜材料的饱和极化ps、剩余极化Pr、矫顽场Ec、漏电流Ik等参数,以及对铁电薄膜材料铁电疲劳、铁电保持的测试。能够较全面准确地测量铁电薄膜的铁电。仪器采用一体化设计,实现测试结果全数字化,操作简单方便。
  铁电材料参数测试仪主要是由正弦波、三角波、间歇三角波、梯形波发生器及正、负矩形脉冲和双极性双脉冲发生器外加铁电材料电滞回线、I-V特性及开关特性测量电路构成。适用于铁电薄膜、铁电体材料的电测量,可测量铁电薄膜电滞回线、I-V特性及开关特性,可准确地测出具有非对称电滞回线铁电薄膜的Pr值。可测铁电体材料的电滞回线及IV特性。同时也可作为一台通用信号发生器、高压信号发生器使用。
  产品特点
  电滞回线测量、铁电材料的饱和极化±Ps、剩余极化±Pr、矫顽场±Ec、电容量C等参数
  铁电疲劳测量
  铁电保持测量
  电阻测量
  漏电流测量
  精度高的三维移动平台
  软件功能
  HC5000系列测试系统的软件平台hacepro,采用labview系统开发,符合导体、半导体材料的各项测试需求,具备稳定性与an全性,并具备断电资料的保存功能,图像资料可保存恢复。兼容,XP、win7、win10系统。
  产品来源:http://www.huaceyq.cn/Products-31094501.html
  商铺地址:www.chem17.com/st253720/product_31094501.html
原文链接:http://www.zhanzhanwang.cn/com/kokosoko/news/itemid-2207.html,转载和复制请保留此链接。
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